EOS(过电应力)对电子系统来说与半导体器件相关。EOS事件是可观察到的电气条件分类之一。
EOS事件可包括:
静电放电(ESD)
系统瞬态
雷击
充电
电磁脉冲(Electromagnetic Pulse,EMP)
然而ESD是属于过电应力(EOS)现象的一种。
EOS(过电应力)对电子系统来说与半导体器件相关。EOS事件是可观察到的电气条件分类之一。
EOS事件可包括:
静电放电(ESD)
系统瞬态
雷击
充电
电磁脉冲(Electromagnetic Pulse,EMP)
然而ESD是属于过电应力(EOS)现象的一种。