ESD/EOS潜在的故障发生几率有多大？

我收到一些由现场返回的组件（已安装在电路板上的芯片，在通电测试时不能通过），在实验室分析后被确定为ESD/EOS。这种潜在的故障发生的几率有多大？发生前有何征兆？

EOS和ESD 在物理过程上有些不同，进一步讲，ESD可以分解为一次性损坏和较长的潜在性损坏，这取决于ESD 的能量和所作用的材料。研究表明：80%的劣质运放由于EOS或高能量的ESD 而损坏，另外20%的运放也表现出较小的性能降低（由于潜在的ESD 损害）。